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产品中心小麦面粉大米检测化验仪器
小麦不完善粒测定仪以小麦不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后，通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型，实时分析粮食特征并计算出小麦不完善粒百分比。
更新时间：2025-04-24
型号：KM-XML
浏览量：422
小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、总粒数、千粒重和茎秆茎节长度等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。
更新时间：2025-04-24型号：KM-XMBX浏览量：346
水稻表型检测系统可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。
更新时间：2025-04-24型号：KM-SDY浏览量：402
单头面筋测定仪适用于小麦粉、颗粒粉或全麦粉的测定，广泛应用于食品和面粉加工、粮油质检、粮食贮藏、大专院校和科研机构等部门。
更新时间：2025-04-24型号：MJ-IID浏览量：661