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产品中心小麦面粉大米检测化验仪器谷物分析仪
玉米表型检测仪可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。
更新时间：2025-06-20
型号：KM-YMBX
浏览量：655
水稻表型检测系统可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。
更新时间：2025-06-20型号：KM-SDY浏览量：513
KM-DMII大米碎米测定仪用于代替人工目测来客观、快速、准确地自动检测大米的加工精度，具有重复性和再现性好等优点
更新时间：2025-06-19型号：KM-DMII浏览量：627
大米加工精度分析仪用于代替人工目测来客观、快速、准确地自动检测大米的加工精度，适用于科研院所、检测单位、碾米厂和流通企业等。
更新时间：2025-06-19型号：KM-DMJD浏览量：845